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德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀應用領域：

大批量電鍍件測量

防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻

電鍍行業(yè)槽液分析

線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略

測量接插件和觸點的鍍層

電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量

黃金，珠寶和手表行業(yè)

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術參數(shù)：

1、工作臺：

設計：馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺

移動范圍：255x 235mm

X/Y平臺移動速度：≤80 mm/s

X/Y平臺移動重復精度：≤0.01 mm，單向

可用樣品放置區(qū)域：300 x 350mm

Z軸：可編程運行

Z軸移動范圍：140mm

樣品:重量5kg，降低精度可達20kg

樣品:高度140mm

2、環(huán)境要求：

使用時溫度：10℃- 40℃

存儲或運輸溫度：0℃ - 50℃

空氣相對濕度：≤95%,無結(jié)露

3、計算單元：

計算機：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

軟件：標準:WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER

4、執(zhí)行標準：

CE合格標準：EN 61010

X射線標準：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準：型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。

5、通用規(guī)格：

設計用途：能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

元素范圍：從元素氯(17)到鈾(92)，配有可選的WinFTM BASIC軟件時，可同時測定24種元素。

形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向：從上到下

6、X射線探測：

X射線接收器：比例接收器

測量距離：0 ~ 80mm，使用專有保護的DCM測量距離補償法

7、視頻系統(tǒng)：

視頻系統(tǒng)：

CCD彩色攝像頭，沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進行監(jiān)控，可自動對焦或手動聚焦

十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數(shù)：40x-160x

8、電氣參數(shù)：

電源要求：交流220v 50Hz

功率：120W(不包括計算機)

保護等級：IP40

9、尺寸規(guī)格：

外部尺寸：寬×深×高[mm]:570 x760 x 650

內(nèi)部測量室尺寸：寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146

重量：120kg